Измерители RLC (иммитанса)

Измеряемые параметры: Измерение сопротивления (Z, R), ёмкости, индуктивности, тангенса угла потерь, добротности, сопротивление постоянному току (Rdc), эквивалентное последовательное сопротивления (ESR), измерение фазового сдвига (θ). Погрешность ±0,2% (базовая). Электрическое сопротивление от 50 мОм до 10 МОм. Разрешение (R, Z) 0,1 мОм. Электрическая емкость от 1 пФ до 50 мФ. Разрешение (C) 0,001 пФ. Индуктивность от 0,5 мкГн до 1 кГн. Разрешение (L) 1 нГн. Частота тест сигнала 50 Гц, 100 Гц, 120 Гц, 1 кГц, 2 кГц, 10 кГц, 50 кГц, 100 кГц. Диапазон частот Фиксированный. Интерфейс USB (type C). Уровень тест сигнала 0,3 Вскз/ 0,7 Вскз/ 1 Вскз (перем.). 1 В пост (DC).

Измеряемые параметры: Измерение сопротивления (Z, R), ёмкости, индуктивности, тангенса угла потерь, добротности, сопротивление постоянному току (Rdc), эквивалентное последовательное сопротивления (ESR), измерение фазового сдвига (θ). Погрешность ±0,2% (базовая). Электрическое сопротивление от 50 мОм до 10 МОм. Разрешение (R, Z) 0,1 мОм. Электрическая емкость от 1 пФ до 50 мФ. Разрешение (C) 0,001 пФ. Индуктивность от 0,5 мкГн до 1 кГн. Разрешение (L) 1 нГн. Частота тест сигнала 50 Гц, 100 Гц, 120 Гц, 1 кГц, 2 кГц, 10 кГц. Диапазон частот Фиксированный. Интерфейс USB (type C). Уровень тест сигнала 0,3 Вскз/ 0,7 Вскз/ 1 Вскз (перем.). 1 В пост (DC).

Измеряемые параметры: Сопротивление (R, DCR), ёмкость (C), испытание p-n переходов, прозвонка цепи. Погрешность ±3% (ёмкость). Электрическое сопротивление от 600 Ом до 60 МОм. Разрешение (R) 0,1 Ом. Электрическая емкость от 6 нф до 60 мФ. Разрешение (C) 1 пФ.

Измерительный щуп для SMD компонентов, DC ~ 1 МГц, совместимо с LCR-76000/78100G/78200.

Адаптер для ВЧ компонентов до 30 МГц типа SMD/чип LCR-15А. Совместимость: LCR-78200.

Адаптер для ВЧ компонентов с выводами на торце (частотный диапазон до 30 МГц). Совместимость: измерители иммитанса серии LCR-78200.

Адаптер для ВЧ компонентов с продольными выводами (частотный диапазон до 30 МГц). Совместимость: измерители иммитанса серии LCR-78200.

Измеряемые параметры: комплексное сопротивление на переменном токе (R, Z, X), ЭПС (ESR), проводимость (G, Y, B), ёмкость (С), индуктивность (L), тангенс угла потерь (D), добротность (Q), фазовый сдвиг°/rad,Turns-Ratio (коэф. трансф.), Turns (витки обмоток), Phase (фазовый угол), Lk (индуктивность утечки). Электрическое сопротивление 0,01 мОм - 100 МОм. Электрическая емкость 0,01 нФ - 10 Ф. 0,01 мкГн - 100 кГн. Частота тест сигнала 20Гц -300 кГц. Скорость измерения - 13 мс/ 90 мс/ 370 мс (быстр./ сред./ медл.). Усреднение значений (1/…../255). Допусковый контроль (Pass/Fail) в режимах - «абс. знач./Δ-изм/ %». Большой цветной графический ЖК-дисплей (6 разрядов). Табличные измерения (List - тест по 10 точкам «частота / уровень/ пост. смещение «напряжение - ток»). Переключаемый вых. импеданс (10/ 250 / 50/ 100 Ом). Режимы калибровки - КЗ/ ХХ/ Согласов.(Load). Внутр. память (100 ячеек/ профили настроек). Гнездо USB на передней панели для flash-накопителя.

Измеряемые параметры: комплексное сопротивление на переменном токе (R, Z, X), ЭПС (ESR), проводимость (G, Y, B), ёмкость (С), индуктивность (L), тангенс угла потерь (D), добротность (Q), фазовый сдвиг°/rad,Turns-Ratio (коэф. трансф.), Turns (витки обмоток), Phase (фазовый угол), Lk (индуктивность утечки). Электрическое сопротивление 0,01 мОм - 100 МОм. Электрическая емкость 0,01 нФ - 10 Ф. Индуктивность 0,01 мкГн - 100 кГн. Частота тест сигнала 20Гц -500 кГц. Скорость измерения - 13 мс/ 90 мс/ 370 мс (быстр./ сред./ медл.). Усреднение значений (1/…../255). Допусковый контроль (Pass/Fail) в режимах - «абс. знач./Δ-изм/ %». Большой цветной графический ЖК-дисплей (6 разрядов). Табличные измерения (List - тест по 10 точкам «частота / уровень/ пост. смещение «напряжение - ток»). Переключаемый вых. импеданс (10/ 250 / 50/ 100 Ом). Режимы калибровки - КЗ/ ХХ/ Согласов.(Load). Внутр. память (100 ячеек/ профили настроек). Гнездо USB на передней панели для flash-накопителя.

Измеряемые параметры: комплексное сопротивление на переменном токе (R, Z, X), ЭПС (ESR), проводимость (G, Y, B), ёмкость (С), индуктивность (L), тангенс угла потерь (D), добротность (Q), фазовый сдвиг°/rad,Turns-Ratio (коэф. трансф.), Turns (витки обмоток), Phase (фазовый угол), Lk (индуктивность утечки). Электрическое сопротивление 0,01 мОм - 100 МОм. Электрическая емкость 0,01 нФ - 10 Ф. Индуктивность 0,01 мкГн - 100 кГн. Частота тест сигнала 20Гц – 1МГц. Скорость измерения - 13 мс/ 90 мс/ 370 мс (быстр./ сред./ медл.). Усреднение значений (1/…../255). Допусковый контроль (Pass/Fail) в режимах - «абс. знач./Δ-изм/ %». Большой цветной графический ЖК-дисплей (6 разрядов). Табличные измерения (List - тест по 10 точкам «частота / уровень/ пост. смещение «напряжение - ток»). Переключаемый вых. импеданс (10/ 250 / 50/ 100 Ом). Режимы калибровки - КЗ/ ХХ/ Согласов.(Load). Внутр. память (100 ячеек/ профили настроек). Гнездо USB на передней панели для flash-накопителя.

Измеряемые параметры: комплексное сопротивление на переменном токе (R, Z, X), ЭПС (ESR), проводимость (G, Y, B), ёмкость (С), индуктивность (L), тангенс угла потерь (D), добротность (Q), фазовый сдвиг °/rad. Погрешность 0,05%... 5%. Электрическое сопротивление от 0,001 мОм до 100 МОм. Разрешение (R) 0,001 мОм. Электрическая емкость от 0,01 нФ до 10 Ф. Разрешение (C) 0,01 нФ. Индуктивность от 0,0001 мкГн до 100 кГн. Разрешение (L) 0,0001 мкГн. Частота тест сигнала 20Гц -500 кГц. Диапазон частот 43 фиксир. значения. Макс. разрешение уст. частоты 0,1 мГц (на 20 Гц). Скорость измерения (F>10 кГц) - 1 мс/ 3,3 мс/ 90 мс/ 220 мс (быстр./ сред./ медл.). Усреднение значений (2/…../255). Допусковый контроль (Pass/Fail) в режимах - «абс. знач./Δ-изм/ %». Большой цветной сенсорный ЖК-дисплей (6 разрядов, диаг. 25 см, 1280х800). Табличные измерения (List - тест по 100 точкам «частота / уровень/ пост. смещение «напряжение - ток»). Графическая развертка измеренных значений (51/ 101/ 201/ 401/ 801 точек). Внутр. память 100 М (профили настроек/ Set, экранная графика). Переключаемый вых. импеданс (30/ 100 Ом). Режимы калибровки - КЗ/ ХХ/ Согласов.(Load). Гнездо USB на передней панели для подключения flash-накопителя. Интерфейс RS-232, USB (Host/ Device), Handler (сортировщик). Уровень тест сигнала 5 мВ- 20 Вскз (до f<1 МГц, макс. разреш. 1мВ), 50 мкА -100 мАскз (макс. разреш.10 мкА).

Измеряемые параметры: комплексное сопротивление на переменном токе (R, Z, X), ЭПС (ESR), проводимость (G, Y, B), ёмкость (С), индуктивность (L), тангенс угла потерь (D), добротность (Q), фазовый сдвиг °/rad. Погрешность 0,05%... 5%. Электрическое сопротивление от 0,001 мОм до 100 МОм. Разрешение (R) 0,001 мОм. Электрическая емкость от 0,01 нФ до 10 Ф. Разрешение (C) 0,01 нФ. Индуктивность от 0,0001 мкГн до 100 кГн. Разрешение (L) 0,0001 мкГн. Частота тест сигнала 20Гц – 2 МГц. Диапазон частот 56 фиксир. значений. Макс. разрешение уст. частоты 0,1 мГц (на 20 Гц). Скорость измерения (F>10 кГц) - 1 мс/ 3,3 мс/ 90 мс/ 220 мс (быстр./ сред./ медл.). Усреднение значений (2/…../255). Допусковый контроль (Pass/Fail) в режимах - «абс. знач./Δ-изм/ %». Большой цветной сенсорный ЖК-дисплей (6 разрядов, диаг. 25 см, 1280х800). Табличные измерения (List - тест по 100 точкам «частота / уровень/ пост. смещение «напряжение - ток»). Графическая развертка измеренных значений (51/ 101/ 201/ 401/ 801 точек). Внутр. память 100 М (профили настроек/ Set, экранная графика). Переключаемый вых. импеданс (30/ 100 Ом). Режимы калибровки - КЗ/ ХХ/ Согласов.(Load). Гнездо USB на передней панели для подключения flash-накопителя. Интерфейс RS-232, USB (Host/ Device), Handler (сортировщик). Уровень тест сигнала 5 мВ- 20 Вскз (до f<1 МГц, макс. разреш. 1мВ), 50 мкА -100 мАскз (макс. разреш.10 мкА).

Прецизионный RLC-метр с функцией графического анализа. Тестовая частота 20 Гц...500 кГц. Базовая погрешность 0,05%. Емкость (C) 0,00001 пФ...10 Ф, индуктивность (L) 0,00001 мкГн...100 кГн, сопротивление (Z, R, X, DCR) 0,00001 Ом...100 МОм, проводимость (Y, G, B) 0,00001 мкСм...100 См, добротности (Q) 0,00001...99999,9, тангенса угла потерь (D) 0,00001...10, фазовый угол, отклонение %. Последовательная и параллельная схема замещения. Внутренний источник смещения (0 В...±40 В / 0 мА...±100 мА). Настройка уровня тестового сигнала. Встроенный источник тока 0...2 А. Сканирование: поточечно 201 точка, графически 801 точка. Выходной импеданс 30 Ом, 100 Ом. Компаратор. Одновременное отображение 4 параметра. Внутренняя память на 201 измерение. Сохранение на USB. Интерфейсы RS-232C, USB, LAN, HANDLER, DCI. ЖК дисплей сенсорный 10,1" (1280 х 800). Габариты 430х177х265 мм, масса 11 кг.

Прецизионный RLC-метр с функцией графического анализа. Тестовая частота 20 Гц...2 МГц. Базовая погрешность 0,05%. Емкость (C) 0,00001 пФ...10 Ф, индуктивность (L) 0,00001 мкГн...100 кГн, сопротивление (Z, R, X, DCR) 0,00001 Ом...100 МОм, проводимость (Y, G, B) 0,00001 мкСм...100 См, добротность (Q) 0,00001...99999,9, тангенс угла потерь (D) 0,00001...10, фазовый угол, отклонение %. Последовательная и параллельная схема замещения. Внутренний источник смещения (0 В...±40 В / 0 мА...±100 мА). Настройка уровня тестового сигнала. Встроенный источник тока 0...2 А. Сканирование: поточечно 201 точка, графически 801 точка. Выходной импеданс 30 Ом, 100 Ом. Компаратор. Одновременное отображение 4 параметра. Внутренняя память на 201 измерение. Сохранение на USB. Интерфейсы RS-232C, USB, LAN, HANDLER, DCI. ЖК дисплей сенсорный 10,1" (1280 х 800). Габариты 430х177х265 мм, масса 11 кг.

Измерение постоянного напряжения 36 В. Измерение сопротивления 300 Ом - 30 МОм. Измерение емкости 3 нФ - 30 мФ. Режим "Проверка диодов" напряжение открытой цепи: 3.0В, ток: 2мА. Режим "Проверка проводимости" порог срабатывания: 30 Ом. Режим "Проверка полупроводников или светодиодов" напряжение: около 21В; ток: около 1 мА. Габаритные размеры 204 x 33 x 25 мм. Масса 80 г.

Измерение напряжение батареи 36 В. Измерение сопротивления 600 Ом - 60 МОм. Измерение емкости 10 нФ - 100 мФ. Режим "Проверка диодов" напряжение открытой цепи: 3.0В, ток: 2мА. Режим "Проверка проводимости" порог срабатывания: 50 Ом. Режим "Проверка полупроводников или светодиодов" напряжение: около 21В; ток: около 1 мА. Габаритные размеры 204 x 33 x 25 мм. Масса 80 г.

Измеряемые параметры импеданс (|Z|/ R), фазовый угол (θDEG/ θRAD), индуктивность (Ls / Lp), ёмкость (Cs / Cp), активное сопротивление (Rs / Rp), ЭПС (ESR), добротность (Q), коэф. диэлектрических потерь (D), полная проводимость (Y), активная проводимость (G), реактивная проводимость (B), реактивное сопротивление (X), измерения сопротивления на постоянном токе (Rdc). Электрическое сопротивление от 10 мОм до 100 МОм. Разрешение (R) 0,01 мОм. Электрическая емкость от 50 фФ до 1Ф. Разрешение (C) 0,01 пФ. Индуктивность 10 нГн до 100 кГн. Разрешение (L) 0,1 нГн. Частота тест сигнала 10 Гц - 5 МГц. Диапазон частот Не фиксированный. Прецизионный анализатор компонентов для высокочастотных измерений характеристик радиодеталей (17 параметров). Непрерывное (по диапазону частот) и комплексное тестирование выводных компонентов, а также материалов и деталей поверхностного монтажа (SMD). Три типа калибровки (КЗ/ХХ/ Нагрузка), компенсация. Функция динамического анализа - графики (2 кривые одновременно), таблица (8 парам. х 15 шагов). Функция развертки при измерении параметра (до 267 точек). Автомасштабирование шкалы (Auto FIT), цифр. растяжка (Zoom ±). Парал./ последов. схема замещения при измерении. Выбор архитектуры эквивалентной схемы из 7 типов (сочетание компонентов в ИУ). Допусковый тест (Pass/Fail), источник внутр. пост. смещения ± 12В. Перекл. вых. импеданс - 25 Ом/ 100 Ом. Частота тест-сигнала. Интерфейс GPIB, LAN, RS-232, USB (2). Уровень тест сигнала Перем. напряжение (АС) 10 мВ…2 В (≤1 МГц), 10 мВ…1 В (>3 МГц или при F≤ 1 МГц и Rвых=25 Ом). Перем. ток (АС) 100 мкА…20 мА (Rвых=100 Ом) / 200 мкА…40 мА (Rвых=25 Ом). Уровень пост. тест-сигнала (DC) до 1 Впост. (40 мА). Разрешение установки 1 мВ/ 10 мкА.

Измеряемые параметры импеданс (|Z|/ R), фазовый угол (θDEG/ θRAD), индуктивность (Ls / Lp), ёмкость (Cs / Cp), активное сопротивление (Rs / Rp), ЭПС (ESR), добротность (Q), коэф. диэлектрических потерь (D), полная проводимость (Y), активная проводимость (G), реактивная проводимость (B), реактивное сопротивление (X), измерения сопротивления на постоянном токе (Rdc). Электрическое сопротивление от 10 мОм до 100 МОм. Разрешение (R) 0,01 мОм. Электрическая емкость от 50 фФ до 1Ф. Разрешение (C) 0,01 пФ. Индуктивность от 10 нГн до 100 кГн. Разрешение (L) 0,1 нГн. Частота тест сигнала 10 Гц - 10 МГц. Диапазон частот Не фиксированный. Прецизионный анализатор компонентов для высокочастотных измерений характеристик радиодеталей (17 параметров). Непрерывное (по диапазону частот) и комплексное тестирование выводных компонентов, а также материалов и деталей поверхностного монтажа (SMD). Три типа калибровки (КЗ/ХХ/ Нагрузка), компенсация. Функция динамического анализа - графики (2 кривые одновременно), таблица (8 парам. х 15 шагов). Функция развертки при измерении параметра (до 267 точек). Автомасштабирование шкалы (Auto FIT), цифр. растяжка (Zoom ±). Парал./ последов. схема замещения при измерении. Выбор архитектуры эквивалентной схемы из 7 типов (сочетание компонентов в ИУ). Допусковый тест (Pass/Fail), источник внутр. пост. смещения ± 12В. Перекл. вых. импеданс - 25 Ом/ 100 Ом. Интерфейс GPIB, LAN, RS-232, USB (2) Уровень тест сигнала Перем. напряжение (АС) 10 мВ…2 В (≤1 МГц), 10 мВ…1 В (>3 МГц или при F≤ 1 МГц и Rвых=25 Ом). Перем. ток (АС) 100 мкА…20 мА (Rвых=100 Ом) / 200 мкА…40 мА (Rвых=25 Ом). Уровень пост. тест-сигнала (DC) до 1 Впост. (40 мА). Разрешение установки 1 мВ/ 10 мкА.

Измеряемые параметры Импеданс (|Z|/ R), фазовый угол (θDEG/ θRAD), индуктивность (Ls / Lp), ёмкость (Cs / Cp), активное сопротивление (Rs / Rp), ЭПС (ESR), добротность (Q), коэф. диэлектрических потерь (D), полная проводимость (Y), активная проводимость (G), реактивная проводимость (B), реактивное сопротивление (X), измерения сопротивления на постоянном токе (Rdc). Электрическое сопротивление от 10 мОм до 100 МОм. Разрешение (R) 0,01 мОм. Электрическая емкость от 50 фФ до 1Ф. Разрешение (C) 0,01 пФ. Индуктивность от 10 нГн до 100 кГн. Разрешение (L) 0,1 нГн. Частота тест сигнала 10 Гц - 20 МГц. Диапазон частот Не фиксированный. Особенности Прецизионный анализатор компонентов для высокочастотных измерений характеристик радиодеталей (17 параметров). Непрерывное (по диапазону частот) и комплексное тестирование выводных компонентов, а также материалов и деталей поверхностного монтажа (SMD). Три типа калибровки (КЗ/ХХ/ Нагрузка), компенсация. Функция динамического анализа - графики (2 кривые одновременно), таблица (8 парам. х 15 шагов). Функция развертки при измерении параметра (до 267 точек). Автомасштабирование шкалы (Auto FIT), цифр. растяжка (Zoom ±). Парал./ последов. схема замещения при измерении. Выбор архитектуры эквивалентной схемы из 7 типов (сочетание компонентов в ИУ). Допусковый тест (Pass/Fail), источник внутр. пост. смещения ± 12В. Перекл. вых. импеданс - 25 Ом/ 100 Ом. Интерфейс GPIB, LAN, RS-232, USB (2). Уровень тест сигнала Перем. напряжение (АС) 10 мВ…2 В (≤1 МГц), 10 мВ…1 В (>3 МГц или при F≤ 1 МГц и Rвых=25 Ом). Перем. ток (АС) 100 мкА…20 мА (Rвых=100 Ом) / 200 мкА…40 мА (Rвых=25 Ом). Уровень пост. тест-сигнала (DC) до 1 Впост. (40 мА). Разрешение установки 1 мВ/ 10 мкА.

Измеряемые параметры импеданс (|Z|/ R), фазовый угол (θDEG/ θRAD), индуктивность (Ls / Lp), ёмкость (Cs / Cp), активное сопротивление (Rs / Rp), ЭПС (ESR), добротность (Q), коэф. диэлектрических потерь (D), полная проводимость (Y), активная проводимость (G), реактивная проводимость (B), реактивное сопротивление (X), измерения сопротивления на постоянном токе (Rdc). Электрическое сопротивление от 10 мОм до 100 МОм. Разрешение (R) 0,01 мОм. Электрическая емкость от 50 фФ до 1Ф. Разрешение (C) 0,01 пФ. Индуктивность от 10 нГн до 100 кГн. Разрешение (L) 0,1 нГн. Частота тест сигнала 10 Гц - 30 МГц. Диапазон частот Не фиксированный. Прецизионный анализатор компонентов для высокочастотных измерений характеристик радиодеталей (17 параметров). Непрерывное (по диапазону частот) и комплексное тестирование выводных компонентов, а также материалов и деталей поверхностного монтажа (SMD). Три типа калибровки (КЗ/ХХ/ Нагрузка), компенсация. Функция динамического анализа - графики (2 кривые одновременно), таблица (8 парам. х 15 шагов). Функция развертки при измерении параметра (до 267 точек). Автомасштабирование шкалы (Auto FIT), цифр. растяжка (Zoom ±). Парал./ последов. схема замещения при измерении. Выбор архитектуры эквивалентной схемы из 7 типов (сочетание компонентов в ИУ). Допусковый тест (Pass/Fail), источник внутр. пост. смещения ± 12В. Перекл. вых. импеданс - 25 Ом/ 100 Ом. Интерфейс GPIB, LAN, RS-232, USB (2). Уровень тест сигнала Перем. напряжение (АС) 10 мВ…2 В (≤1 МГц), 10 мВ…1 В (>3 МГц или при F≤ 1 МГц и Rвых=25 Ом). Перем. ток (АС) 100 мкА…20 мА (Rвых=100 Ом) / 200 мкА…40 мА (Rвых=25 Ом). Уровень пост. тест-сигнала (DC) до 1 Впост. (40 мА). Разрешение установки 1 мВ/ 10 мкА.

Измеряемые параметры импеданс (|Z|/ R), фазовый угол (θDEG/ θRAD), индуктивность (Ls / Lp), ёмкость (Cs / Cp), активное сопротивление (Rs / Rp), ЭПС (ESR), добротность (Q), коэф. диэлектрических потерь (D), полная проводимость (Y), активная проводимость (G), реактивная проводимость (B), реактивное сопротивление (X), измерения сопротивления на постоянном токе (Rdc). Электрическое сопротивление от 10 мОм до 100 МОм. Разрешение (R) 0,01 мОм. Электрическая емкость от 50 фФ до 1Ф. Разрешение (C) 0,01 пФ. Индуктивность от 10 нГн до 100 кГн. Разрешение (L) 0,1 нГн. Частота тест сигнала 10 Гц - 50 МГц. Диапазон частот Не фиксированный. Прецизионный анализатор компонентов для высокочастотных измерений характеристик радиодеталей (17 параметров). Непрерывное (по диапазону частот) и комплексное тестирование выводных компонентов, а также материалов и деталей поверхностного монтажа (SMD). Три типа калибровки (КЗ/ХХ/ Нагрузка), компенсация. Функция динамического анализа - графики (2 кривые одновременно), таблица (8 парам. х 15 шагов). Функция развертки при измерении параметра (до 267 точек). Автомасштабирование шкалы (Auto FIT), цифр. растяжка (Zoom ±). Парал./ последов. схема замещения при измерении. Выбор архитектуры эквивалентной схемы из 7 типов (сочетание компонентов в ИУ). Допусковый тест (Pass/Fail), источник внутр. пост. смещения ± 12В. Перекл. вых. импеданс - 25 Ом/ 100 Ом. Частота тест-сигнала. Интерфейс GPIB, LAN, RS-232, USB (2). Уровень тест сигнала Перем. напряжение (АС) 10 мВ…2 В (≤1 МГц), 10 мВ…1 В (>3 МГц или при F≤ 1 МГц и Rвых=25 Ом). Перем. ток (АС) 100 мкА…20 мА (Rвых=100 Ом) / 200 мкА…40 мА (Rвых=25 Ом). Уровень пост. тест-сигнала (DC) до 1 Впост. (40 мА). Разрешение установки 1 мВ/ 10 мкА.

Измеряемые параметры: импеданс (|Z|/ R), фазовый угол (θDEG/ θRAD), индуктивность (Ls / Lp), ёмкость (Cs / Cp), активное сопротивление (Rs / Rp), ЭПС (ESR), добротность (Q), коэф. диэлектрических потерь (D), полная проводимость (Y), активная проводимость (G), реактивная проводимость (B), реактивное сопротивление (X), измерения сопротивления на постоянном токе (Rdc). Погрешность 0,08%. Электрическое сопротивление от 10 мОм до 100 МОм. Разрешение (R) 0,01 мОм. Электрическая емкость от 50 фФ до 1Ф. Разрешение (C) 0,01 пФ. Индуктивность от 10 нГн до 100 кГн. Разрешение (L) 0,1 нГн. Частота тест сигнала 10 Гц - 5 МГц. Диапазон частот Не фиксированный. Особенности: Непрерывное по диапазону частот и комплексное тестирование выводных компонентов, а также материалов и деталей поверхностного монтажа (SMD). Три типа калибровки (КЗ/ХХ/ Нагрузка), компенсация. Функция динамического анализа - графики (2 кривые одновременно), таблица (8 парам. х 15 шагов). Функция развертки при измерении параметра (до 267 точек). Автомасштабирование шкалы, цифровая растяжка. Парал./ последов. схема измерений. Допусковый тест (Pass/Fail), источник внутреннего постоянного смещения ± 12 В. Переключение выходного импеданса - 25 Ом/ 100 Ом. Внутренняя память (запись/ вызов) 99 профилей настройки/48 программ тестирования. Внешний USB-флэш диск (до 128 ГБ). Макс. быстродействие до 2,5 мс (400 изм/с). Цветной графический ЖК-дисплей (6 разрядов, 800480, диаг. 18 см) – одновременный вывод до 4-х параметров. Интерфейс: GPIB, LAN, RS-232, USB (2). Уровень тест сигнала: напряжение (АС) 10 мВ…2 В (≤1 МГц) 10 мВ…1 В (>3 МГц или при F≤ 1 МГц и Rвых=25 Ом). Ток (АС) 100 мкА…20 мА (Rвых=100 Ом)/ 400 мкА…40 мА (Rвых=25 Ом). Разрешение установки 1 мВ/ 10 мкА.

Измеряемые параметры: импеданс (|Z|/ R), фазовый угол (θDEG/ θRAD), индуктивность (Ls / Lp), ёмкость (Cs / Cp), активное сопротивление (Rs / Rp), ЭПС (ESR), добротность (Q), коэфф. диэлектрических потерь (D), полная проводимость (Y), активная проводимость (G), реактивная проводимость (B), реактивное сопротивление (X), измерения сопротивления на постоянном токе (Rdc). Погрешность 0,08%. Электрическое сопротивление от 10 мОм до 100 МОм. Разрешение (R) 0,01 мОм. Электрическая емкость от 50 фФ до 1Ф. Разрешение (C) 0,01 пФ. Индуктивность от 10 нГн до 100 кГн. Разрешение (L) 0,1 нГн. Частота тест сигнала 10 Гц - 20 МГц. Диапазон частот Не фиксированный. Особенности: Непрерывное по диапазону частот и комплексное тестирование выводных компонентов, а также материалов и деталей поверхностного монтажа (SMD). Три типа калибровки (КЗ/ХХ/ Нагрузка), компенсация. Функция динамического анализа - графики (2 кривые одновременно), таблица (8 парам. х 15 шагов). Функция развертки при измерении параметра (до 267 точек). Автомасштабирование шкалы, цифровая растяжка. Парал./ последов. схема измерений. Допусковый тест (Pass/Fail), источник внутреннего постоянного смещения ± 12 В. Переключение выходного импеданса - 25 Ом/ 100 Ом. Внутренняя память (запись/ вызов) 99 профилей настройки/48 программ тестирования. Внешний USB-флэш диск (до 128 ГБ). Макс. быстродействие до 2,5 мс (400 изм/с). Цветной графический ЖК-дисплей (6 разрядов, 800480, диаг. 18 см) – одновременный вывод до 4-х параметров. Интерфейс GPIB, LAN, RS-232, USB (2). Уровень тест сигнала: напряжение (АС) 10 мВ…2 В (≤1 МГц) 10 мВ…1 В (>3 МГц или при F≤ 1 МГц и Rвых=25 Ом). Ток (АС) 100 мкА…20 мА (Rвых=100 Ом)/ 400 мкА…40 мА (Rвых=25Ом). Разрешение установки 1 мВ/ 10 мкА.

Измеряемые параметры: импеданс (|Z|/ R), фазовый угол (θDEG/ θRAD), индуктивность (Ls / Lp), ёмкость (Cs / Cp), активное сопротивление (Rs / Rp), ЭПС (ESR), добротность (Q), коэф. диэлектрических потерь (D), полная проводимость (Y), активная проводимость (G), реактивная проводимость (B), реактивное сопротивление (X), измерения сопротивления на постоянном токе (Rdc). Погрешность 0,08%. Электрическое сопротивление от 10 мОм до 100 МОм. Разрешение (R) 0,01 мОм. Электрическая емкость от 50 фФ до 1Ф. Разрешение (C) 0,01 пФ. Индуктивность от 10 нГн до 100 кГн. Разрешение (L) 0,1 нГн. Частота тест сигнала 10 Гц - 30 МГц. Диапазон частот Не фиксированный. Особенности: Непрерывное по диапазону частот и комплексное тестирование выводных компонентов, а также материалов и деталей поверхностного монтажа (SMD). Три типа калибровки (КЗ/ХХ/ Нагрузка), компенсация. Функция динамического анализа - графики (2 кривые одновременно), таблица (8 парам. х 15 шагов). Функция развертки при измерении параметра (до 267 точек). Автомасштабирование шкалы, цифровая растяжка. Парал./ последов. схема измерений. Допусковый тест (Pass/Fail), источник внутреннего постоянного смещения ± 12 В. Переключение выходного импеданса - 25 Ом/ 100 Ом. Внутренняя память (запись/ вызов) 99 профилей настройки/48 программ тестирования. Внешний USB-флэш диск (до 128 ГБ). Макс. быстродействие до 2,5 мс (400 изм/с). Цветной графический ЖК-дисплей (6 разрядов, 800480, диаг. 18 см) – одновременный вывод до 4-х параметров. Интерфейс GPIB, LAN, RS-232, USB (2). Уровень тест сигнала: напряжение (АС) 10 мВ…2 В (≤1 МГц) 10 мВ…1 В (>3 МГц или при F≤ 1 МГц и Rвых=25 Ом). Ток (АС) 100 мкА…20 мА (Rвых=100 Ом)/ 400 мкА…40 мА (Rвых=25Ом). Разрешение установки 1 мВ/ 10 мкА.

Измеряемые параметры: импеданс (|Z|/ R), фазовый угол (θDEG/ θRAD), индуктивность (Ls / Lp), ёмкость (Cs / Cp), активное сопротивление (Rs / Rp), ЭПС (ESR), добротность (Q), коэфф. диэлектрических потерь (D), полная проводимость (Y), активная проводимость (G), реактивная проводимость (B), реактивное сопротивление (X), измерения сопротивления на постоянном токе (Rdc). Погрешность 0,08%. Электрическое сопротивление от 10 мОм до 100 МОм. Разрешение (R) 0,01 мОм. Электрическая емкость от 50 фФ до 1Ф. Разрешение (C) 0,01 пФ. Индуктивность от 10 нГн до 100 кГн. Разрешение (L) 0,1 нГн. Частота тест сигнала 10 Гц - 10 МГц. Диапазон частот Не фиксированный. Особенности: Непрерывное по диапазону частот и комплексное тестирование выводных компонентов, а также материалов и деталей поверхностного монтажа (SMD). Три типа калибровки (КЗ/ХХ/ Нагрузка), компенсация. Функция динамического анализа - графики (2 кривые одновременно), таблица (8 парам. х 15 шагов). Функция развертки при измерении параметра (до 267 точек). Автомасштабирование шкалы, цифровая растяжка. Парал./ последов. схема измерений. Допусковый тест (Pass/Fail), источник внутреннего постоянного смещения ± 12 В. Переключение выходного импеданса - 25 Ом/ 100 Ом. Внутренняя память (запись/ вызов) 99 профилей настройки/48 программ тестирования. Внешний USB-флэш диск (до 128 ГБ). Макс. быстродействие до 2,5 мс (400 изм/с). Цветной графический ЖК-дисплей (6 разрядов, 800480, диаг. 18 см) – одновременный вывод до 4-х параметров. Интерфейс GPIB, LAN, RS-232, USB (2). Уровень тест сигнала: напряжение (АС) 10 мВ…2 В (≤1 МГц) 10 мВ…1 В (>3 МГц или при F≤ 1 МГц и Rвых=25 Ом). Ток (АС) 100 мкА…20 мА (Rвых=100 Ом)/ 400 мкА…40 мА (Rвых=25Ом). Разрешение установки 1 мВ/ 10 мкА.