Измерители RLC (иммитанса)

Измеряемые параметры импеданс (|Z|/ R), фазовый угол (θDEG/ θRAD), индуктивность (Ls / Lp), ёмкость (Cs / Cp), активное сопротивление (Rs / Rp), ЭПС (ESR), добротность (Q), коэф. диэлектрических потерь (D), полная проводимость (Y), активная проводимость (G), реактивная проводимость (B), реактивное сопротивление (X), измерения сопротивления на постоянном токе (Rdc). Электрическое сопротивление от 10 мОм до 100 МОм. Разрешение (R) 0,01 мОм. Электрическая емкость от 50 фФ до 1Ф. Разрешение (C) 0,01 пФ. Индуктивность 10 нГн до 100 кГн. Разрешение (L) 0,1 нГн. Частота тест сигнала 10 Гц - 5 МГц. Диапазон частот Не фиксированный. Прецизионный анализатор компонентов для высокочастотных измерений характеристик радиодеталей (17 параметров). Непрерывное (по диапазону частот) и комплексное тестирование выводных компонентов, а также материалов и деталей поверхностного монтажа (SMD). Три типа калибровки (КЗ/ХХ/ Нагрузка), компенсация. Функция динамического анализа - графики (2 кривые одновременно), таблица (8 парам. х 15 шагов). Функция развертки при измерении параметра (до 267 точек). Автомасштабирование шкалы (Auto FIT), цифр. растяжка (Zoom ±). Парал./ последов. схема замещения при измерении. Выбор архитектуры эквивалентной схемы из 7 типов (сочетание компонентов в ИУ). Допусковый тест (Pass/Fail), источник внутр. пост. смещения ± 12В. Перекл. вых. импеданс - 25 Ом/ 100 Ом. Частота тест-сигнала. Интерфейс GPIB, LAN, RS-232, USB (2). Уровень тест сигнала Перем. напряжение (АС) 10 мВ…2 В (≤1 МГц), 10 мВ…1 В (>3 МГц или при F≤ 1 МГц и Rвых=25 Ом). Перем. ток (АС) 100 мкА…20 мА (Rвых=100 Ом) / 200 мкА…40 мА (Rвых=25 Ом). Уровень пост. тест-сигнала (DC) до 1 Впост. (40 мА). Разрешение установки 1 мВ/ 10 мкА.

Измеряемые параметры импеданс (|Z|/ R), фазовый угол (θDEG/ θRAD), индуктивность (Ls / Lp), ёмкость (Cs / Cp), активное сопротивление (Rs / Rp), ЭПС (ESR), добротность (Q), коэф. диэлектрических потерь (D), полная проводимость (Y), активная проводимость (G), реактивная проводимость (B), реактивное сопротивление (X), измерения сопротивления на постоянном токе (Rdc). Электрическое сопротивление от 10 мОм до 100 МОм. Разрешение (R) 0,01 мОм. Электрическая емкость от 50 фФ до 1Ф. Разрешение (C) 0,01 пФ. Индуктивность от 10 нГн до 100 кГн. Разрешение (L) 0,1 нГн. Частота тест сигнала 10 Гц - 10 МГц. Диапазон частот Не фиксированный. Прецизионный анализатор компонентов для высокочастотных измерений характеристик радиодеталей (17 параметров). Непрерывное (по диапазону частот) и комплексное тестирование выводных компонентов, а также материалов и деталей поверхностного монтажа (SMD). Три типа калибровки (КЗ/ХХ/ Нагрузка), компенсация. Функция динамического анализа - графики (2 кривые одновременно), таблица (8 парам. х 15 шагов). Функция развертки при измерении параметра (до 267 точек). Автомасштабирование шкалы (Auto FIT), цифр. растяжка (Zoom ±). Парал./ последов. схема замещения при измерении. Выбор архитектуры эквивалентной схемы из 7 типов (сочетание компонентов в ИУ). Допусковый тест (Pass/Fail), источник внутр. пост. смещения ± 12В. Перекл. вых. импеданс - 25 Ом/ 100 Ом. Интерфейс GPIB, LAN, RS-232, USB (2) Уровень тест сигнала Перем. напряжение (АС) 10 мВ…2 В (≤1 МГц), 10 мВ…1 В (>3 МГц или при F≤ 1 МГц и Rвых=25 Ом). Перем. ток (АС) 100 мкА…20 мА (Rвых=100 Ом) / 200 мкА…40 мА (Rвых=25 Ом). Уровень пост. тест-сигнала (DC) до 1 Впост. (40 мА). Разрешение установки 1 мВ/ 10 мкА.

Измеряемые параметры Импеданс (|Z|/ R), фазовый угол (θDEG/ θRAD), индуктивность (Ls / Lp), ёмкость (Cs / Cp), активное сопротивление (Rs / Rp), ЭПС (ESR), добротность (Q), коэф. диэлектрических потерь (D), полная проводимость (Y), активная проводимость (G), реактивная проводимость (B), реактивное сопротивление (X), измерения сопротивления на постоянном токе (Rdc). Электрическое сопротивление от 10 мОм до 100 МОм. Разрешение (R) 0,01 мОм. Электрическая емкость от 50 фФ до 1Ф. Разрешение (C) 0,01 пФ. Индуктивность от 10 нГн до 100 кГн. Разрешение (L) 0,1 нГн. Частота тест сигнала 10 Гц - 20 МГц. Диапазон частот Не фиксированный. Особенности Прецизионный анализатор компонентов для высокочастотных измерений характеристик радиодеталей (17 параметров). Непрерывное (по диапазону частот) и комплексное тестирование выводных компонентов, а также материалов и деталей поверхностного монтажа (SMD). Три типа калибровки (КЗ/ХХ/ Нагрузка), компенсация. Функция динамического анализа - графики (2 кривые одновременно), таблица (8 парам. х 15 шагов). Функция развертки при измерении параметра (до 267 точек). Автомасштабирование шкалы (Auto FIT), цифр. растяжка (Zoom ±). Парал./ последов. схема замещения при измерении. Выбор архитектуры эквивалентной схемы из 7 типов (сочетание компонентов в ИУ). Допусковый тест (Pass/Fail), источник внутр. пост. смещения ± 12В. Перекл. вых. импеданс - 25 Ом/ 100 Ом. Интерфейс GPIB, LAN, RS-232, USB (2). Уровень тест сигнала Перем. напряжение (АС) 10 мВ…2 В (≤1 МГц), 10 мВ…1 В (>3 МГц или при F≤ 1 МГц и Rвых=25 Ом). Перем. ток (АС) 100 мкА…20 мА (Rвых=100 Ом) / 200 мкА…40 мА (Rвых=25 Ом). Уровень пост. тест-сигнала (DC) до 1 Впост. (40 мА). Разрешение установки 1 мВ/ 10 мкА.

Измеряемые параметры импеданс (|Z|/ R), фазовый угол (θDEG/ θRAD), индуктивность (Ls / Lp), ёмкость (Cs / Cp), активное сопротивление (Rs / Rp), ЭПС (ESR), добротность (Q), коэф. диэлектрических потерь (D), полная проводимость (Y), активная проводимость (G), реактивная проводимость (B), реактивное сопротивление (X), измерения сопротивления на постоянном токе (Rdc). Электрическое сопротивление от 10 мОм до 100 МОм. Разрешение (R) 0,01 мОм. Электрическая емкость от 50 фФ до 1Ф. Разрешение (C) 0,01 пФ. Индуктивность от 10 нГн до 100 кГн. Разрешение (L) 0,1 нГн. Частота тест сигнала 10 Гц - 30 МГц. Диапазон частот Не фиксированный. Прецизионный анализатор компонентов для высокочастотных измерений характеристик радиодеталей (17 параметров). Непрерывное (по диапазону частот) и комплексное тестирование выводных компонентов, а также материалов и деталей поверхностного монтажа (SMD). Три типа калибровки (КЗ/ХХ/ Нагрузка), компенсация. Функция динамического анализа - графики (2 кривые одновременно), таблица (8 парам. х 15 шагов). Функция развертки при измерении параметра (до 267 точек). Автомасштабирование шкалы (Auto FIT), цифр. растяжка (Zoom ±). Парал./ последов. схема замещения при измерении. Выбор архитектуры эквивалентной схемы из 7 типов (сочетание компонентов в ИУ). Допусковый тест (Pass/Fail), источник внутр. пост. смещения ± 12В. Перекл. вых. импеданс - 25 Ом/ 100 Ом. Интерфейс GPIB, LAN, RS-232, USB (2). Уровень тест сигнала Перем. напряжение (АС) 10 мВ…2 В (≤1 МГц), 10 мВ…1 В (>3 МГц или при F≤ 1 МГц и Rвых=25 Ом). Перем. ток (АС) 100 мкА…20 мА (Rвых=100 Ом) / 200 мкА…40 мА (Rвых=25 Ом). Уровень пост. тест-сигнала (DC) до 1 Впост. (40 мА). Разрешение установки 1 мВ/ 10 мкА.

Измеряемые параметры импеданс (|Z|/ R), фазовый угол (θDEG/ θRAD), индуктивность (Ls / Lp), ёмкость (Cs / Cp), активное сопротивление (Rs / Rp), ЭПС (ESR), добротность (Q), коэф. диэлектрических потерь (D), полная проводимость (Y), активная проводимость (G), реактивная проводимость (B), реактивное сопротивление (X), измерения сопротивления на постоянном токе (Rdc). Электрическое сопротивление от 10 мОм до 100 МОм. Разрешение (R) 0,01 мОм. Электрическая емкость от 50 фФ до 1Ф. Разрешение (C) 0,01 пФ. Индуктивность от 10 нГн до 100 кГн. Разрешение (L) 0,1 нГн. Частота тест сигнала 10 Гц - 50 МГц. Диапазон частот Не фиксированный. Прецизионный анализатор компонентов для высокочастотных измерений характеристик радиодеталей (17 параметров). Непрерывное (по диапазону частот) и комплексное тестирование выводных компонентов, а также материалов и деталей поверхностного монтажа (SMD). Три типа калибровки (КЗ/ХХ/ Нагрузка), компенсация. Функция динамического анализа - графики (2 кривые одновременно), таблица (8 парам. х 15 шагов). Функция развертки при измерении параметра (до 267 точек). Автомасштабирование шкалы (Auto FIT), цифр. растяжка (Zoom ±). Парал./ последов. схема замещения при измерении. Выбор архитектуры эквивалентной схемы из 7 типов (сочетание компонентов в ИУ). Допусковый тест (Pass/Fail), источник внутр. пост. смещения ± 12В. Перекл. вых. импеданс - 25 Ом/ 100 Ом. Частота тест-сигнала. Интерфейс GPIB, LAN, RS-232, USB (2). Уровень тест сигнала Перем. напряжение (АС) 10 мВ…2 В (≤1 МГц), 10 мВ…1 В (>3 МГц или при F≤ 1 МГц и Rвых=25 Ом). Перем. ток (АС) 100 мкА…20 мА (Rвых=100 Ом) / 200 мкА…40 мА (Rвых=25 Ом). Уровень пост. тест-сигнала (DC) до 1 Впост. (40 мА). Разрешение установки 1 мВ/ 10 мкА.

Измеряемые параметры: импеданс (|Z|/ R), фазовый угол (θDEG/ θRAD), индуктивность (Ls / Lp), ёмкость (Cs / Cp), активное сопротивление (Rs / Rp), ЭПС (ESR), добротность (Q), коэф. диэлектрических потерь (D), полная проводимость (Y), активная проводимость (G), реактивная проводимость (B), реактивное сопротивление (X), измерения сопротивления на постоянном токе (Rdc). Погрешность 0,08%. Электрическое сопротивление от 10 мОм до 100 МОм. Разрешение (R) 0,01 мОм. Электрическая емкость от 50 фФ до 1Ф. Разрешение (C) 0,01 пФ. Индуктивность от 10 нГн до 100 кГн. Разрешение (L) 0,1 нГн. Частота тест сигнала 10 Гц - 5 МГц. Диапазон частот Не фиксированный. Особенности: Непрерывное по диапазону частот и комплексное тестирование выводных компонентов, а также материалов и деталей поверхностного монтажа (SMD). Три типа калибровки (КЗ/ХХ/ Нагрузка), компенсация. Функция динамического анализа - графики (2 кривые одновременно), таблица (8 парам. х 15 шагов). Функция развертки при измерении параметра (до 267 точек). Автомасштабирование шкалы, цифровая растяжка. Парал./ последов. схема измерений. Допусковый тест (Pass/Fail), источник внутреннего постоянного смещения ± 12 В. Переключение выходного импеданса - 25 Ом/ 100 Ом. Внутренняя память (запись/ вызов) 99 профилей настройки/48 программ тестирования. Внешний USB-флэш диск (до 128 ГБ). Макс. быстродействие до 2,5 мс (400 изм/с). Цветной графический ЖК-дисплей (6 разрядов, 800480, диаг. 18 см) – одновременный вывод до 4-х параметров. Интерфейс: GPIB, LAN, RS-232, USB (2). Уровень тест сигнала: напряжение (АС) 10 мВ…2 В (≤1 МГц) 10 мВ…1 В (>3 МГц или при F≤ 1 МГц и Rвых=25 Ом). Ток (АС) 100 мкА…20 мА (Rвых=100 Ом)/ 400 мкА…40 мА (Rвых=25 Ом). Разрешение установки 1 мВ/ 10 мкА.

Измеряемые параметры: импеданс (|Z|/ R), фазовый угол (θDEG/ θRAD), индуктивность (Ls / Lp), ёмкость (Cs / Cp), активное сопротивление (Rs / Rp), ЭПС (ESR), добротность (Q), коэфф. диэлектрических потерь (D), полная проводимость (Y), активная проводимость (G), реактивная проводимость (B), реактивное сопротивление (X), измерения сопротивления на постоянном токе (Rdc). Погрешность 0,08%. Электрическое сопротивление от 10 мОм до 100 МОм. Разрешение (R) 0,01 мОм. Электрическая емкость от 50 фФ до 1Ф. Разрешение (C) 0,01 пФ. Индуктивность от 10 нГн до 100 кГн. Разрешение (L) 0,1 нГн. Частота тест сигнала 10 Гц - 20 МГц. Диапазон частот Не фиксированный. Особенности: Непрерывное по диапазону частот и комплексное тестирование выводных компонентов, а также материалов и деталей поверхностного монтажа (SMD). Три типа калибровки (КЗ/ХХ/ Нагрузка), компенсация. Функция динамического анализа - графики (2 кривые одновременно), таблица (8 парам. х 15 шагов). Функция развертки при измерении параметра (до 267 точек). Автомасштабирование шкалы, цифровая растяжка. Парал./ последов. схема измерений. Допусковый тест (Pass/Fail), источник внутреннего постоянного смещения ± 12 В. Переключение выходного импеданса - 25 Ом/ 100 Ом. Внутренняя память (запись/ вызов) 99 профилей настройки/48 программ тестирования. Внешний USB-флэш диск (до 128 ГБ). Макс. быстродействие до 2,5 мс (400 изм/с). Цветной графический ЖК-дисплей (6 разрядов, 800480, диаг. 18 см) – одновременный вывод до 4-х параметров. Интерфейс GPIB, LAN, RS-232, USB (2). Уровень тест сигнала: напряжение (АС) 10 мВ…2 В (≤1 МГц) 10 мВ…1 В (>3 МГц или при F≤ 1 МГц и Rвых=25 Ом). Ток (АС) 100 мкА…20 мА (Rвых=100 Ом)/ 400 мкА…40 мА (Rвых=25Ом). Разрешение установки 1 мВ/ 10 мкА.

Измеряемые параметры: импеданс (|Z|/ R), фазовый угол (θDEG/ θRAD), индуктивность (Ls / Lp), ёмкость (Cs / Cp), активное сопротивление (Rs / Rp), ЭПС (ESR), добротность (Q), коэф. диэлектрических потерь (D), полная проводимость (Y), активная проводимость (G), реактивная проводимость (B), реактивное сопротивление (X), измерения сопротивления на постоянном токе (Rdc). Погрешность 0,08%. Электрическое сопротивление от 10 мОм до 100 МОм. Разрешение (R) 0,01 мОм. Электрическая емкость от 50 фФ до 1Ф. Разрешение (C) 0,01 пФ. Индуктивность от 10 нГн до 100 кГн. Разрешение (L) 0,1 нГн. Частота тест сигнала 10 Гц - 30 МГц. Диапазон частот Не фиксированный. Особенности: Непрерывное по диапазону частот и комплексное тестирование выводных компонентов, а также материалов и деталей поверхностного монтажа (SMD). Три типа калибровки (КЗ/ХХ/ Нагрузка), компенсация. Функция динамического анализа - графики (2 кривые одновременно), таблица (8 парам. х 15 шагов). Функция развертки при измерении параметра (до 267 точек). Автомасштабирование шкалы, цифровая растяжка. Парал./ последов. схема измерений. Допусковый тест (Pass/Fail), источник внутреннего постоянного смещения ± 12 В. Переключение выходного импеданса - 25 Ом/ 100 Ом. Внутренняя память (запись/ вызов) 99 профилей настройки/48 программ тестирования. Внешний USB-флэш диск (до 128 ГБ). Макс. быстродействие до 2,5 мс (400 изм/с). Цветной графический ЖК-дисплей (6 разрядов, 800480, диаг. 18 см) – одновременный вывод до 4-х параметров. Интерфейс GPIB, LAN, RS-232, USB (2). Уровень тест сигнала: напряжение (АС) 10 мВ…2 В (≤1 МГц) 10 мВ…1 В (>3 МГц или при F≤ 1 МГц и Rвых=25 Ом). Ток (АС) 100 мкА…20 мА (Rвых=100 Ом)/ 400 мкА…40 мА (Rвых=25Ом). Разрешение установки 1 мВ/ 10 мкА.

Измеряемые параметры: импеданс (|Z|/ R), фазовый угол (θDEG/ θRAD), индуктивность (Ls / Lp), ёмкость (Cs / Cp), активное сопротивление (Rs / Rp), ЭПС (ESR), добротность (Q), коэфф. диэлектрических потерь (D), полная проводимость (Y), активная проводимость (G), реактивная проводимость (B), реактивное сопротивление (X), измерения сопротивления на постоянном токе (Rdc). Погрешность 0,08%. Электрическое сопротивление от 10 мОм до 100 МОм. Разрешение (R) 0,01 мОм. Электрическая емкость от 50 фФ до 1Ф. Разрешение (C) 0,01 пФ. Индуктивность от 10 нГн до 100 кГн. Разрешение (L) 0,1 нГн. Частота тест сигнала 10 Гц - 10 МГц. Диапазон частот Не фиксированный. Особенности: Непрерывное по диапазону частот и комплексное тестирование выводных компонентов, а также материалов и деталей поверхностного монтажа (SMD). Три типа калибровки (КЗ/ХХ/ Нагрузка), компенсация. Функция динамического анализа - графики (2 кривые одновременно), таблица (8 парам. х 15 шагов). Функция развертки при измерении параметра (до 267 точек). Автомасштабирование шкалы, цифровая растяжка. Парал./ последов. схема измерений. Допусковый тест (Pass/Fail), источник внутреннего постоянного смещения ± 12 В. Переключение выходного импеданса - 25 Ом/ 100 Ом. Внутренняя память (запись/ вызов) 99 профилей настройки/48 программ тестирования. Внешний USB-флэш диск (до 128 ГБ). Макс. быстродействие до 2,5 мс (400 изм/с). Цветной графический ЖК-дисплей (6 разрядов, 800480, диаг. 18 см) – одновременный вывод до 4-х параметров. Интерфейс GPIB, LAN, RS-232, USB (2). Уровень тест сигнала: напряжение (АС) 10 мВ…2 В (≤1 МГц) 10 мВ…1 В (>3 МГц или при F≤ 1 МГц и Rвых=25 Ом). Ток (АС) 100 мкА…20 мА (Rвых=100 Ом)/ 400 мкА…40 мА (Rвых=25Ом). Разрешение установки 1 мВ/ 10 мкА.

Измеряемые параметры: импеданс (|Z|/ R), фазовый угол (θDEG/ θRAD), индуктивность (Ls / Lp), ёмкость (Cs / Cp), активное сопротивление (Rs / Rp), ЭПС (ESR), добротность (Q), коэф. диэлектрических потерь (D), полная проводимость (Y), активная проводимость (G), реактивная проводимость (B), реактивное сопротивление (X), измерения сопротивления на постоянном токе (Rdc). Погрешность 0,08%. Электрическое сопротивление от 10 мОм до 100 МОм. Разрешение (R) 0,01 мОм. Электрическая емкость от 50 фФ до 1Ф. Разрешение (C) 0,01 пФ. Индуктивность от 10 нГн до 100 кГн. Разрешение (L) 0,1 нГн. Частота тест сигнала 10 Гц - 1 МГц. Диапазон частот Не фиксированный. Особенности: прецизионный анализатор компонентов для высокочастотных измерений характеристик радиодеталей. Непрерывное (по диапазону частот) и комплексное тестирование выводных компонентов, а также материалов и деталей поверхностного монтажа (SMD). Три типа калибровки (КЗ/ХХ/ Нагрузка), компенсация. Функция динамического анализа - графики (2 кривые одновременно), таблица (8 парам. х 15 шагов). Функция развертки при измерении параметра (до 267 точек). Автомасштабирование шкалы (Auto FIT), цифр. растяжка (Zoom ±). Парал./ последов. схема измерений. Допусковый тест (Pass/Fail), источник внутр. пост. смещения ± 12 В. Перекл. вых. импеданс - 25 Ом/ 100 Ом. Частота тест-сигнала 10… 100Гц/ 1 кГц/ 10 кГц/ 100 кГц/ 1МГц (разрешение 0,1Гц/ 0,1Гц/ 0,05Гц/ 0,1Гц/ 1Гц/ 10Гц). Внутр. память (запись/ вызов) - 99 профилей настройки (setup)/48 программ тестирования (list). Внешний USB-флэш диск (до 128 ГБ) запись профилей, экранной инф, графиков и отсчетов. Макс. быстродействие до 2,5 мс (400 изм/с). Цветной графический ЖК-дисплей (6 разрядов, 800x480, диаг. 18 см) – одновременная индикация до 4-х параметров. Интерфейс GPIB, LAN, RS-232, USB (2). Уровень тест сигнала: АС напряжение от 10 мВ…2 В (≤1 МГц)/ ток от 100 мкА…20 мА (Rвых=100 Ом), 400 мкА…40 мА (Rвых=25 Ом). Уровень тест сигнала(DС) - напряжение – 1Впост./ ток 40 мА макс (Rвых=25 Ом). Разрешение установки 1 мВ/ 10 мкА.

Измерительный кабель, 4 BNC – 2 «крокодила» "(типа Кельвин), диапазон 0… 10 МГц, макс. Uвх +/-35 В, совместим с измерителями LCR-76000/78100G/7800.  

Измерительный щуп для SMD компонентов, DC ~ 1 МГц, совместимо сLCR-76000/78100G/7800.  

Измерительный 4-х проводной щуп с 2 крокодилами, DC ~ 1 МГц, максимальное напряжение ±45 В, совместимо с LCR-76000/78100G/7800  

Измерительный 2-х проводной щуп с 2- мя "крокодилами", DC ~ 1 МГц, совместимо сLCR-76000/78100G/7800.

Адаптер для прямого подключения компонентов с регулировкой длины выводов, DC ~ 1 МГц, совместимо с LCR-LCR-76000/78100G/7800  

Диапазон частот 10 Гц…2 кГц (± 0,01 %). Измерение сопротивление до 100 МОм (R,Z,X, Rdc), проводимости до 1000 См (G, Y, B), ёмкости до 1 Ф, индуктивности до 100 кГн, добротности (Q) до 10000, тангенса угла потерь до 10, фазового сдвига -180…180°; базовая погрешность ± 0,1 %; выходной импеданс: 30 Ом, 50 Ом, 100 Ом; тест-сигнал 10 мВ…2 В/ 100 мкА…20 мА; Δ-измерения (Δ, %); режим качания по 10 точкам (при помощи ПО до 1000 отсчетов макс.); запись до 10 профилей, пар./послед. схема изм., программ. табл. изм. (мультишаговый тест), усреднение (1-256), графическая ЖК матрица (320×240 точек) с подсветкой, 6-разр. индик., интерфейс USB/RS-232, масса 3 кг.

Диапазон частот 10 Гц…20 кГц (± 0,01 %). Измерение сопротивление до 100 МОм (R,Z,X, Rdc), проводимости до 1000 См (G, Y, B), ёмкости до 1 Ф, индуктивности до 100 кГн, добротности (Q) до 10000, тангенса угла потерь до 10, фазового сдвига -180…180°; базовая погрешность ± 0,1 %; выходной импеданс: 30 Ом, 50 Ом, 100 Ом; тест-сигнал 10 мВ…2 В/ 100 мкА…20 мА; Δ-измерения (Δ, %); режим качания по 10 точкам (при помощи ПО до 1000 отсчетов макс.); запись до 10 профилей, пар./послед. схема изм., программ. табл. изм. (мультишаговый тест), усреднение (1-256), графическая ЖК матрица (320×240 точек) с подсветкой, 6-разр. индик., интерфейс USB/RS-232, масса 3 кг.

Диапазон частот 10 Гц…100 кГц (± 0,01 %). Измерение сопротивление до 100 МОм (R,Z,X, Rdc), проводимости до 1000 См (G, Y, B), ёмкости до 1 Ф, индуктивности до 100 кГн, добротности (Q) до 10000, тангенса угла потерь до 10, фазового сдвига -180…180°; базовая погрешность ± 0,1 %; выходной импеданс: 30 Ом, 50 Ом, 100 Ом; тест-сигнал 10 мВ…2 В/ 100 мкА…20 мА; Δ-измерения (Δ, %); режим качания по 10 точкам (при помощи ПО до 1000 отсчетов макс.); запись до 10 профилей, пар./послед. схема изм., программ. табл. изм. (мультишаговый тест), усреднение (1-256), графическая ЖК матрица (320×240 точек) с подсветкой, 6-разр. индик., интерфейс USB/RS-232, масса 3 кг.

Диапазон частот 10 Гц…300 кГц (± 0,01 %). Измерение сопротивление до 100 МОм (R,Z,X, Rdc), проводимости до 1000 См (G, Y, B), ёмкости до 1 Ф, индуктивности до 100 кГн, добротности (Q) до 10000, тангенса угла потерь до 10, фазового сдвига -180…180°; базовая погрешность ± 0,1 %; выходной импеданс: 30 Ом, 50 Ом, 100 Ом; тест-сигнал 10 мВ…2 В/ 100 мкА…20 мА; Δ-измерения (Δ, %); режим качания по 10 точкам (при помощи ПО до 1000 отсчетов макс.); запись до 10 профилей, пар./послед. схема изм., программ. табл. изм. (мультишаговый тест), усреднение (1-256), графическая ЖК матрица (320×240 точек) с подсветкой, 6-разр. индик., интерфейс USB/RS-232, масса 3 кг.

Диапазон частот 10 Гц…200 кГц (± 0,01 %). Измерение сопротивление до 100 МОм (R,Z,X, Rdc), проводимости до 1000 См (G, Y, B), ёмкости до 1 Ф, индуктивности до 100 кГн, добротности (Q) до 10000, тангенса угла потерь до 10, фазового сдвига -180…180°; базовая погрешность ± 0,1 %; выходной импеданс: 30 Ом, 50 Ом, 100 Ом; тест-сигнал 10 мВ…2 В/ 100 мкА…20 мА; Δ-измерения (Δ, %); режим качания по 10 точкам (при помощи ПО до 1000 отсчетов макс.); запись до 10 профилей, пар./послед. схема изм., программ. табл. изм. (мультишаговый тест), усреднение (1-256), графическая ЖК матрица (320×240 точек) с подсветкой, 6-разр. индик., интерфейс USB/RS-232, масса 3 кг.

Адаптер внешнего переменного тока смещения +/- 2,5 А для RLC-измерителей серии LCR-76000. Диапазон частот переменного сигнала смещения 40 Гц … 1 МГц.

Адаптер для прямого подключения SMD и компонентов с малым размером выводов, DC ~ 10 МГц, макс. Напряжение +/- 42 В, совместимо с LCR-76000/78100G/7800, типоразмеры SMD: 0201~1812

Адаптер внешнего переменного напряжения смещения +/- 45 В для RLC-измерителей серии LCR-76000. Диапазон частот переменного сигнала смещения 40 Гц … 1 МГц.

Опция внешнего постоянного/ переменного напряжения смещения +/- 200 В для RLC-измерителей серии LCR-781хxG. Диапазон частот переменного сигнала смещения 0 Гц/DC ….2 МГц. Состав: коммутационный элемент (подключение к BNC входам прибора) с тестовой площадкой для подсоединения тестируемого выводного элемента (DIP), 2 провода подключения к внешнему источнику напряжения (черн/ красн).